X射線熒光(XRF)微區鍍層測厚儀

2012/12/10 | 【 【打印】【關閉】

項目或成果
簡介

當一束激勵X射線照射到樣品上,鍍層和基底中的元素都放射出特征熒光X射線(XRF)。鍍層熒光X射線的強度隨鍍層厚度而增加;基底熒光X射線的強度隨鍍層厚度而降低。根據這類關系,測定熒光X射線的強度,便可以計算出鍍層的厚度。普通XRF儀器的照射區域比較大,不適用于精微細小、形狀復雜的樣品。微區XRF儀器將微束X射線集中照射在很小的區域內(專利ZL 94 1 12117.8),采用激光定位技術(專利ZL 97 2 35392.5),能方便地選擇樣品上任意部位進行精確測量。

負責人

朱節清

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59554657

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項目或成果
應用前景

XRF微區鍍層測厚儀的國內市場需求量每年約300臺,(以每臺20萬計算,每年需求額約6000萬元),絕大部分來自三家外國公司(美國CMI公司,德國Fischer公司和日本精工舍公司)。中國科學院上海應用物理研究所凝聚其30多年從事X射線熒光(XRF)技術研究的經驗,結合其近年來在微區分析領域取得的成果,于1994年研制成功XRF系列微區鍍層測厚儀,受到用戶好評。這項研究成果的目標是在鍍層質量檢驗中,用我國高新科學技術,取代昂貴的進口儀器。該項產品已通過國家技術監督局鑒定,性能指標達到進口儀器的水平,它的價格只有進口儀器的幾分之一,是一種比較先進而實用的質量檢驗儀器,適合于電子元件,精密機械,鐘表眼鏡,制筆工藝,珠寶首飾及其它電鍍行業推廣使用。

技術(成果)成熟度

目前,我們已經開發出XRF300,XRF500和XRF900三種適合不同大小被測件的儀器,它們能夠測量的品種和精度都達到進口儀器的水平。由于測量自動化程度、儀器結構包裝和市場營銷等因素不如進口儀器,現在的年銷量約25臺,少于國內市場的10%。

擬合作方式

我們愿意聯合相關的儀器制造公司共同開展研究,提升儀器的測量自動化程度,改善儀器制造工藝,改進儀器外觀包裝,加強市場營銷力量,大力開拓國內市場,在條件成熟時將產品推銷到國外市場。


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